产品特点
缺陷管理系统(DMS)
缺陷追溯帮助生产管理者快速确认生产状况,通过对检出产品良率的汇总,进行数据分析将缺陷分布可视化展现(如智能缺陷映射、缺陷热力图等)。针对良率规则可实时监控,发现问题可及时报警。汇总数据可自定义缺陷分析生成PPT报告,方便制程改善提供技术分析数据,方便快捷借助客户进行制程改善数解析。
良率提升系统(YMS)
提供数据长期存储,并支持多种格式数据汇总。通过对设备信息的收集,对良率数据建模,提供良率监控、数据分析、过程品质分析、不良预测、异常报警等一系列管理方法,对良率分析形成闭环管理,从而达到良率提升的目的。
AI超算系统(SCC)
基于超算对深度学习的支持,可以高效的训练深度学习模型,实现数据分析自动化、智能化、智慧化。
缺陷管理
缺陷分析
良率管理
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数据可视化
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